權威出擊！群燿光學 UPRtek 亮相 2026 SEMICON TAIWAN
以高精度光學量測技術，布局半導體 UV 與先進製程檢測
UPRtek – 2026 年台灣國際半導體展
全球光學測量解決方案品牌 群燿光學（UPRtek） 將於 2026 SEMICON TAIWAN 台灣國際半導體展 展示最新光學量測與檢測技術，聚焦半導體製程中的 UV 光源量測、先進封裝與高精度光學檢測。
UPRtek 以 「Authority in Light Measurement」 為核心定位，將展示 UV100N 分光式紫外線光譜儀與 MA120C 成像色度計兩大產品， 分別對應半導體製程中的 UV 光源監測，以及先進製造與封裝製程中的非接觸式光學檢測需求。
此次展會中，UPRtek 產品將於半導體合作夥伴「京皓科技（KINGVAST TECHNOLOGY）」攤位展示，歡迎半導體產業客戶蒞臨交流。 歡迎各位來賓與我們的團隊見面，並探索 UPRtek 最新的光學測量解決方案。
光測量權威：確保每個光學過程的精度
隨著先進半導體製造、HBM 和先進封裝技術的不斷發展，對精確、快速、可靠的光學測量的需求也在不斷增長。
UPRtek 在光譜學和光學測量方面擁有豐富的專業知識，提供從紫外光源表徵到二維成像光學檢測等解決方案。
1. UV100N 分光式紫外線光譜儀
UV100N 是新一代手持式分光式 UV 量測設備，專為半導體製造、UV 固化、醫療滅菌及 UV 光源製造等應用設計。
不同於傳統濾光片式 UV 量測儀，UV100N 採用高解析度繞射光柵與 CMOS 線性感測器，單一探頭即可量測完整 UVA、UVB 及 UVC（250–450 nm） 光譜，提供約 1 nm 光譜解析度，可精準掌握 UV 光源的波長、光譜分布與強度特性。
內建即時光譜分析、Micro SD 資料儲存與可攜式設計，可同時滿足產線快速檢測與實驗室精密分析需求，協助工程師進行 UV 光源特性確認、製程監控與設備維護。 它使工程師能夠表徵紫外線光源、監控製程條件並支援設備維護。
主要應用領域：
- 半導體 UV 製程監控
- 光刻 UV 光源量測
- PECVD UV 光源監測
- UV 固化
- UV 光源特性分析
2. MA120C 成像色度計
MA120C 成像色度計系列為新一代 2D 成像色差分析系統，結合高畫素 CMOS 相機、UPRtek 高精度光學量測技術與自有色彩校正演算法。
相較於傳統 AOI 主要進行外觀瑕疵檢測，MA120C 可透過單一成像系統同步進行 色差分析與外觀缺陷檢測，最快約 2 秒完成量測，降低系統複雜度並提升自動化產線整合效率。
MA120C 可搭載 12M、31M、65M 或更高畫素 CMOS 相機，適用於半導體、電子製造、顯示器及新能源等產業。
主要應用包括 載板表面潔淨度檢測、反射光譜分析、精密塗層色彩檢測，以及 EV 電池 AB 膠混膠比例一致性檢測。
透過高精度、非接觸式的光學檢測方式，MA120C 協助製造商提升製程品質、降低不良率，並加速智慧製造導入。
跨域光學創新：從 UV 製程到先進封裝檢測
UPRtek 的光學量測技術持續拓展至半導體與先進製造領域。
在半導體製程中，UV 光源的波長、光譜分布、能量與均勻性直接影響製程穩定度。 透過 UV100N，工程師可快速掌握 UV 光源特性，支援光刻、PECVD、UV curing 等設備的光源檢測與維護。
另一方面，隨著 HBM 與先進封裝製程對表面品質及微小缺陷的要求提升，MA120C 透過高解析度成像與色彩量測技術，提供非接觸式表面光學檢測方案，協助製造商提升製程一致性與良率。
UPRtek 將持續以 「Authority in Light Measurement」 為核心，從光譜、色彩到影像，提供跨製程的高精度光學量測解決方案。
UPRtek – Authority in Light Measurement
面對半導體、AI 與先進封裝持續演進的產業趨勢，UPRtek 將持續投入光學量測技術與應用開發，
從 UV 光譜量測、色彩分析到高解析度成像檢測，協助全球製造商掌握關鍵光學數據。
透過 2026 SEMICON TAIWAN 台灣國際半導體展，UPRtek 將展示更精準、更快速且容易整合的光學量測技術，協助客戶迎接下一世代半導體製造挑戰。
展覽資訊
展會名稱： 2026 SEMICON TAIWAN 台灣國際半導體展
日期： 2026/9/2–9/4
地點： Taiwan, Taipei – TaiNEX 2
展館： 二館四樓
合作夥伴攤位： 京皓科技（KINGVAST TECHNOLOGY）S7130
